ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀采礦地質(zhì)化學(xué)分析-華普通用
發(fā)表日期：2022/11/17 瀏覽次數(shù)：
采礦-地質(zhì)化學(xué)
ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀在采礦和地質(zhì)化學(xué)領(lǐng)域，斯派克的先進(jìn)分析儀獨(dú)領(lǐng)風(fēng)騷
元素分析是勘探和采礦過程中最重要的調(diào)查手段之一。X射線熒光（ED-XRF）光譜儀為巖石、勘探樣本、礦物、礦石、富集礦和尾礦的分析提供了方便快捷的方法，通常需要遠(yuǎn)少于其他技術(shù)的樣本制備工作。
針對(duì)樣品量大、要求分析時(shí)間短、尤其是輕元素檢出限低，ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀提供了所需性能。兩種技術(shù)均可輕松實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，不到兩分鐘即可完成樣本分析，達(dá)到亞ppm（百萬分之一）和ppb（十億分之一）范圍的檢出限。