LitesizerTM粒度分析儀顆粒體系非常復(fù)雜-華普通用
發(fā)表日期：2019/07/04 瀏覽次數(shù)：
LitesizerTM粒度分析儀顆粒體系可能非常復(fù)雜
微納米顆粒的尺寸及穩(wěn)定性對于它們的功能至關(guān)重要，對于它們的處理和流動(dòng)性也同樣重要。
安東帕是高性能分析儀器的領(lǐng)先開發(fā)商和制造商，它將其物理和工程專業(yè)技術(shù)與當(dāng)代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合，研發(fā)出直觀又輕松易用的顆粒分析儀:
LitesizerTM粒度分析儀通過光散射技術(shù)（如透光率和折光率）和巧妙簡易的軟件測量粒徑zeta電位和分子量
LitesizerTM100粒度分析儀
采用 LitesizerTM100粒度分析儀可測量多種樣品的粒徑和透光率。它會(huì)讓您對顆粒體系有一個(gè)快速而準(zhǔn)確的認(rèn)識(shí)，展示這些顆粒體系如何隨時(shí)間、pH值、溫度和濃度變化，從而為您提供優(yōu)化工具。
LitesizerTM 500粒度分析儀
LitesizerTM500粒度分析儀可進(jìn)行上述所有測量，同時(shí)還能測量zeta電位、分子量和折光率。采用獨(dú)特Ω形毛細(xì)管結(jié)合 cmPALS專利技術(shù)（歐洲專利2735870）能確保進(jìn)行快速、穩(wěn)定、可重復(fù)的zeta電位測量，即使是敏感和渾濁樣品。此外， LitesizerTM500粒度分析儀可提供不同散射角度，從而在測量濃縮或稀釋樣品時(shí)均能提供最佳測量條件。
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